产品概述
TESA一维高度测量仪的详细介绍
TESA一维(wei)较高(gao)校(xiao)正仪(yi)Micro Hite 400/🌼700 是集TESA25年技术创(chuang)新临(lin)床🐼经(jing)验推(tui)广的很具(ju)性价比高(gao)的1款,尤其适合于车间现场使用。 表层镀(du)镍(nie)的(de)(de)球墨铸(zhu)铁支撑架一同铸(zhu)有四个支承(cheng),保持了检测(ce)仪(yi)器(qi)的(de)(de)间距稳固性. 外罩内的(ꦗde)(de)立柱要配导轨模式并和支撑架竖直(zhi). 测(ce)头此时导轨上(shang)手机端(duan)并由(you)TESA1技(ji)木(mu)的(de)(de)位移感知器(qi)记(ji)录时间其(qi)地(di)点(dian).每台(tai)测(ce)高(gao)仪♎(yi)中(zhong)含SCS校(xiao)对合(he)格证。
一维测高仪
经过改良的面板和易于使用的软件, 此类典型车间型1D 竖直测量仪器侧重于快速的基础精密测量和一目了然的结果显示.它们的电池续航时间(60小时)使其成为在生产领域特别普遍的仪器.这点对于连接电源受限或是测量需要测高仪大范围移动的场合尤为重要.每台TESA-HITE都附带一份SCS校准证书 (瑞士校准服务) 节省了初始购买后的额外重新校准的成本.
控制面板 - 防护液体或灰尘的侵害 (IP65)
操作简单 - 8个按键的键盘易于学习,不会混淆
电池续航- 市场上较长的电池续航 (60h) )
测量- 从开机到进入*测量 (<5s) 可显着节省时间
SCS 校准证书- 免费附带的 SCS 校准证书节省了初始购买后的额外重新校准的成本